空間差分方法在鈦酸鍶基陶瓷晶界的X射線能量色散譜分析中的應用

X射線能量色散譜(EDS)分析方法在材料領域得到了廣泛的應用.將空間差分方法應用到EDS分析中.能夠突破電子束斑的限制.大大擴展其分析材料微小區(qū)域組分的能力.本文以鈦酸鍶基陶瓷材料中晶界納米顆粒和晶界偏析為例,簡要介紹了與EDS分析相關的空間差分方法,并進行了進一步的分析和討論.

作 者： 邢娟娟 王賢浩 顧輝 XING Juan-juan WANG Xiao-hao GU Hui   作者單位： 邢娟娟,王賢浩,XING Juan-juan,WANG Xiao-hao(中國科學院上海硅酸鹽研究所高性能陶瓷和超微結構國家重點實驗室,上海,200050;中國科學院研究生院,北京,100049)

顧輝,GU Hui(中國科學院上海硅酸鹽研究所高性能陶瓷和超微結構國家重點實驗室,上海,200050) 

刊 名： 電子顯微學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY  年，卷(期)： 2008 27(1)  分類號： O657.62 O766+.1 TB383 TG115.21+5.3  關鍵詞： X射線能量色散譜(EDS)   空間差分   SrTiO3   晶界偏析   納米顆粒  

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