遺忘癥記憶障礙腦成像技術定位研究進展

1引言腦成像技術是指以計算機斷層掃描(Computerized tomography,CT)、正電子發(fā)射斷層掃描(Positron Emission Tomography,PET)和磁共振成像(Magnetic resonance imaging,MRI)三項無創(chuàng)傷顯示人大腦結構的影像學技術.盡管這三項技術出現(xiàn)不過才20多年的歷史,但它在基礎研究和臨床應用方面已顯示出巨大潛力.近年來,一些研究者將這三項技術應用于記憶功能和遺忘癥損傷定位研究,取得了一些重要進展,與傳統(tǒng)病理學方法相比較,有其獨特的優(yōu)越性.為此,本文擬綜述近年來有關應用CT和MRI對遺忘癥記憶障礙進行定位研究的一些重要進展,并與傳統(tǒng)神經(jīng)病理學方法作一比較.

作 者： 王常生 蔡幼銓   作者單位： 王常生(北京大學心理系,100871)

蔡幼銓(解放軍總醫(yī)院MRI室,100853) 

刊 名： 心理科學  PKU CSSCI 英文刊名： PSYCHOLOGICAL SCIENCE  年，卷(期)： 2000 23(3)  分類號： B84  關鍵詞：  

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